中国常州报道—高加速热冲击HATS™   

高速过孔可靠性测试系统已经使用HATS²™技术进行更新。该更新可让HATS™测试系统进行更广温度范围（-55°C to 265°C）的测试；改进后的测量系统有能力进行大电流测试、精确度达到毫欧级别、进行4线桥电阻测量；并有能力按照IPC-TM-650方法2.6.27B进行多循环对流炉回流焊模拟及其在线电阻测量。该更新使得HATS™测量系统的多循环对流炉回流焊模拟和热冲击/热循环模式的测量样品数达到最多72块IPC-2221B 的D型试样、36块传统HATS™试样或新的HATS²™单孔试样。 

HATS²™ 的单孔测试专利coupon试样包含7个单孔测量通道。每个单孔通道也可用一个菊花链通道取代。该专利设计使新版的HATS™设备可从试样孔结构的单孔和菊花链测试通道中均能采集电阻测量数据。

据麦可罗泰克（中国）实验室的技术总监/总裁Bob Neves称，“设计师可在同一块HATS²™单孔测试coupon试样上包含1、2个菊花链通道和5-6个单孔通道。”

关于更多HATS²技术或者HATS²™单孔测试专利coupon试样的信息，请访问CN.HATS-Tester.com 。