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当前环境下的导通孔的可靠性和稳健性--HATS测试

发布时间:2020-05-11 10:02:45 浏览量:182
 

Bob Neves 先生谈HATS测试:https://iconnect007china.yunzhan365.com/books/exbv/mobile/index.html#p=88
PCB007-5月刊精彩内容:http://www.yunzhan365.com/download/download-pdf-file.php?bookid=1356081

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